XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品

簡要描述：XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品
奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩定等優點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術，可精確標定薄膜標樣的負載量。

產品型號：

所屬分類：MICROMATTER元素標準膜

更新時間：2026-01-04

聯系我們 在線咨詢

XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品

奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩定等優點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術，可精確標定薄膜標樣的負載量。

《HJ 830-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。

XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個負載量系列，其他負載量的產品可根據客戶實際需求定制。

可供應的XRF薄膜標準樣品的元素如下（可在表格內打√選擇樣品）：

元素

SL

VL

L

R

H

元素

SL

VL

L

R

H

Na (NaCl)

Co

Mg (MgF2)

Ni

Al

Cu

Si (SiO2)

Zn (ZnTe)

P (GaP)

As (GaAs)

S (CuSx)

Se

Cl (NaCl)

Sr (SrF2)

K (KCl)

Br (CsBr)

Ca (CaF2)

Cd (CdSe)

Sc (ScF3)

Ba (BaF2)

Ti

Pb

V

Sn

Cr

Sb

Mn

In

Fe

Mo

Ag

Hg (HgTe)

可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設備，用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結果的影響；采用生態環境部標準樣品研究所提供的湖南重金屬污染標準土壤樣品，參考NIST 2783標樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品，可用于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日常質控工作。

XRF薄膜標準樣品的安裝形式：

1、 安裝環尺寸（厚度為1.5mm的亞克力玻璃）

圓形：

代碼

外徑(mm)

內徑(mm)

25

25

17

32

32

25

36

36

29

47

47

39

推薦36號尺寸。

方形：

50x50mm方形尺寸，內置?32mm的圓環，代碼50。

2、 支撐膜材料

代碼

支撐膜材料

備注

N

Nuclepore® polycarbonate

氣溶膠多孔膜

M6.3

6.3μm厚度麥拉膜(Mylar)

M3.5

3.5μm厚度麥拉膜(Mylar)

推薦M6.3型材料。

3、 鍍膜方式：

代碼

鍍膜位置排列

A

安裝環-元素膜-支撐膜

B

元素膜-支撐膜-安裝環

XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品